算法應用，是AOI(自動光學檢測儀)算法應用于檢測領域的關鍵部分。神州視覺AOI 具備20多種算法，每一種算法都有它的特別用途。所以在熟悉和理解各種AOI算法的基礎上，使用AOI算法應用于各個檢測項，是AOI工程師制作檢測程序的前提。

　　錯件，主要是用于檢測元件本體的檢測，檢測該元件是否發生錯料。該檢測項是AOI檢測的常規檢測項。錯件可采用四種檢測算法，其四種檢測算法分別為TOC算法、OCV算法、Match算法和OCR算法。每個錯件的檢測算法針對檢測項目的偏重不一樣。

　　TOC算法類的錯件檢測，主要用于非字符類元件的錯件檢測，該類元件主要為電容。該類檢測法是通過抽取元件的本體色，判斷元件本體色是否改變，來檢測元件的錯件。其中元件的本體色參數，無默認參數，是根據實際的本體色給出的色彩抽取參數。

　　OCV算法類的錯件檢測，主要用于清晰字符類的錯件檢測，該類元件主要為電阻。該類檢測法是通過獲取待測字符輪廓與標準字符的字符輪廓的擬合程度，來判斷元件是否發生錯件。該類檢測的判定參數的默認范圍為(0， 12)。如標準字符為“123”，待測字符為“351”，擬合返回值為28.3，判定范圍為(0， 12)，則該元件發生“錯件”。

　　Match類檢測算法，主要是用于模糊字符類的錯件檢測，該類元件主要為二極管、三極管等。該類檢測算法主要是通過獲取待測字符區域與標準字符區域的相似程度，來判定元件是否發生“錯件”。該類錯件的判定范圍默認為(0，32)。

　　OCR類檢測算法，主要是用于重要部件的元件的檢測，該類元件主要為BGA、QFP、BGA等。該類算法主要是通過識別待測字符，判定待測字符是否與標準字符一致來檢測和判斷是否發生錯件。如標準字符為“123”，實際字符為“122”，則OCR算法判斷該類元件發生“錯件”。